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へいこうへいめっしょう
平行平晶は光波干渉原理に基づいて、平行平晶、光学平晶であり、平晶は平晶の測定面と試料の被測定面との間に現れる干渉縞を利用して被測定面の誤差の程度を測定する。
製品の詳細
*へいこうへいめっしょう光波干渉原理に基づいて、へいしょうの測定面と試験片の被測定面との間に現れる干渉縞を用いて被測定面の誤差の程度を測定した。
*へいこうへいめっしょう高精度の平面性と平行性がある。
*平行へいしょうマイクロメータ、レバーマイクロメータ、レバーゲージ、マイクロメータゲージなどの測定器の測定面の平面度と2つの相対測定の平行度を測定するために使用されます。平行平晶は4つのシリーズに分けられ、各シリーズは6つのグループに分けられ、各グループは4つのブロックに分けられる。
平行平晶技術要求
| グループ別 | 2つの作業面の平行度 | 作業面の平面度 | 2/3 d範囲内の平面度 |
| I、II | 0.6 | 0.1 | 0.05 |
| III | 0.8 | 0.1 | 0.05 |
| IV | 1.0 | 0.1 | 0.05 |
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